美國(guó)DAKOTA達(dá)高特測(cè)厚儀探頭 延遲塊探頭PT-402-5507

數(shù)量(個(gè)) 價(jià)格
32 7600.00元/個(gè)
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  • 發(fā)布日期:2021-04-02
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詳細(xì)參數(shù)
品牌美國(guó)DAKOTA型號(hào)PT-402-5507
工作原理超聲波測(cè)厚儀用途鋼板測(cè)厚儀
測(cè)量范圍0.15-25.4mm顯示方式數(shù)顯
電源電壓電池加工定制
外形尺寸直徑1,4英寸,長(zhǎng)3,8英寸重量30g
產(chǎn)地美國(guó)

產(chǎn)品詳情

美國(guó)DAKOTA達(dá)高特測(cè)厚儀探頭 延遲塊探頭PT-402-5507

 

適用于 PX-7 / PX-7 DL / PZX-7 / PZX-7 DL / PVX 型高精密超聲波測(cè)厚儀

 

美國(guó)達(dá)高特測(cè)厚儀探頭延遲塊探頭

可選探頭:

探頭名稱

探頭型號(hào)

頻率

直徑

測(cè)量范圍

說明

延遲塊探頭

PT-402-5507

15MHz

6.35mm

0.15~25.4mm

標(biāo)配探頭

延遲塊探頭

PT-402-6507

20MHz

6.35mm

0.15~19.05mm

標(biāo)配探頭

接觸式探頭

PT-4903-2875

5MHz

3.18mm

0.508~76.2mm

不含探頭線

接觸式探頭

PT-4903-4875

10MHz

3.18mm

0.254~76.2mm

不含探頭線

接觸式探頭

PT-4023-2855

5MHz

6.35mm

0.508~152mm

不含探頭線

接觸式探頭

PT-4023-4855

10MHz

6.35mm

0.254~152mm

不含探頭線

筆式探頭

PT-481-4507

10MHz

4.76mm 

0.15~12.7mm

用于PVX

筆式探頭

PT-681-4507

10MHz

4.76mm 

0.15~12.7mm

90度直角探頭,用于PVX

 

可選配件:

配件名稱

型號(hào)

說明

探頭線

N-104-0020

Lemo 00-Micdot,1.2米長(zhǎng)

延遲塊

F-000-7102

標(biāo)準(zhǔn)延遲塊,直徑6.35mm,長(zhǎng)9.5mm

延遲塊

F-000-7103

標(biāo)準(zhǔn)延遲塊,直徑6.35mm,長(zhǎng)12.7mm

延遲塊

X-132-0000

錐形延遲塊,前端直徑1/8英寸

延遲塊

X-532-0000

錐形延遲塊,前端直徑3/16英寸

延遲塊

X-633-0000

石墨延遲塊,前端直徑1/4英寸

延遲塊

X-533-0000

石墨延遲塊,前端直徑3/16英寸

延遲塊

X-152-0000

筆式探頭延遲塊,前端直徑1/16英寸

延遲塊

X-752-0000

筆式探頭延遲塊,前端直徑1/8英寸




美國(guó)達(dá)高特 

公司是一間專門生產(chǎn)工業(yè)上所使用的測(cè)厚儀及探傷設(shè)備儀器是采用超聲波技術(shù),不需將工件損壞就能作出探傷檢查或用作工件厚度或長(zhǎng)度測(cè)量。




產(chǎn)品系列

超聲波測(cè)厚儀ZX系列   ZX-3 / ZX-5 / ZX-5DL

超聲波測(cè)厚儀ZX系列   ZX-6 / ZX-6DL

多功能精密超聲測(cè)厚儀PVX

多功能超聲測(cè)厚儀系列

A/B掃描超聲波測(cè)厚儀MVX

多功能涂層超聲測(cè)厚儀CMX

多功能涂層A/B掃描超聲測(cè)厚儀CMX DL+

MINI-MAX超聲螺栓應(yīng)力測(cè)試儀

PR-8V精密超聲測(cè)厚儀

UMX-2 超輕量式水下測(cè)厚儀



深圳市泰立儀器儀表有限公司 - 代理許多國(guó)際知名的高科技儀器和設(shè)備,其中尤以無損檢測(cè)和金相理化設(shè)備為主。包括:超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相制樣、光譜等等。材料檢測(cè)為產(chǎn)品質(zhì)量提供了可靠的保證,同時(shí)增加了附加成本。但從另一角度考慮這一附加成本,質(zhì)量保證確實(shí)對(duì)節(jié)約潛在成本提供了有價(jià)值的代價(jià)。按優(yōu)化的生產(chǎn)流程您可以獲得幾個(gè)關(guān)鍵性的好處,提高生產(chǎn)效率,降低失效的危險(xiǎn)性,同時(shí)延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。


無損檢測(cè)

涂層測(cè)厚儀  |  超聲波測(cè)厚儀   |  UT探傷儀   |  UT/PA 相控陣探傷儀  |   水浸C掃描系統(tǒng)    |  便攜式渦流探傷儀  |  渦流探傷系統(tǒng)  |  x射線成像系統(tǒng)  |  工業(yè)x射線機(jī)   |  x光探傷機(jī)   |  x光洗片機(jī)   |  工業(yè)x射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)  |  數(shù)碼成像系統(tǒng)   |  自動(dòng)洗片機(jī)   |  電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x   |  磁粉探傷機(jī)   |  移動(dòng)式磁粉探傷機(jī) |  德國(guó)db   |  scanmaster  |  德國(guó)tiede  |  意大利寶石隆 


理化檢測(cè)

光譜分析儀  |  直讀光譜儀  |  便攜式光譜儀  |  便攜式直讀光譜儀  |  德國(guó)光譜儀   |  磨拋機(jī)  |  研磨機(jī)    |  手動(dòng)切割機(jī)  |  鑲樣機(jī)  |  臺(tái)式光譜儀    |  自動(dòng)鑲樣機(jī)  |  固定式光譜儀  |  切割機(jī)   |   貝萊克  | LAMPLAN  |  德國(guó)belec 

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