產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品參數(shù) | |||
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測試范圍 | S-U | ||
檢測對象 | 固體,液體,粉末狀 | ||
分析時間 | 60s(可調(diào)) | ||
檢出限 | 1ppm | ||
產(chǎn)地 | 江蘇昆山 | ||
重量 | 45Kg | ||
儀器尺寸 | 550mm*416mm*333mm | ||
環(huán)境溫度 | 15-30℃ | ||
操作難度 | 易 | ||
應(yīng)用領(lǐng)域 | 進出口產(chǎn)品ROHS測試 | ||
電源 | 220±5V | ||
外觀 | 銀白色 | ||
可售賣地 | 全國 | ||
類型 | X熒光光譜儀 | ||
型號 | EDX 1800B |
本公司深圳仁瑞電子科技有限公司是一家集銷售回收維修維護為一體的光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀等檢測儀器的廠家,各公司主要經(jīng)營:
ROHS檢測儀器、EN71-3檢測儀器、REACH檢測儀器、鄰本四項檢儀器、多環(huán)芳香烴檢測儀器、合金材料分析儀器、不銹鋼銅合金檢測儀器、X熒光光譜儀、液相色譜儀、氣相色譜儀、光電直讀光譜儀、原子吸收光譜儀、氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀。等各類實驗室常檢測設(shè)備。
所售型號包含:國產(chǎn)天瑞儀器EDX 1800 B(市場占有率高),EDX 1800,EDX 2800,EDX 3000(側(cè)重金銀首飾等),EDX 3000 B,
EDX 4500 H(側(cè)重不銹鋼),EDX 3600 B(鋼鐵行業(yè)優(yōu)選,高端設(shè)備),Thick 800 A(側(cè)重金屬鍍層,膜厚)、ICP 2060T、LC-310、GC-MS6800、OES 1000、GENIUS XRF,設(shè)備儀器主要應(yīng)用功能包含:環(huán)保檢測、重金屬檢測儀、X熒光光譜儀、手提式X熒光光譜儀、臺式ROHS檢測儀、鉛含量檢測儀、Hg含量檢測儀、鎘含量檢測儀、REACH檢測儀器、鄰本二甲雙檢測儀、多環(huán)芳香烴檢測儀器、玩具檢測儀器、
鹵素檢測儀器、成份分析儀、鍍層厚度檢測儀器、光電直讀光譜儀包含、
不銹鋼成分析檢測儀、合金材料檢測儀、銅材檢測儀、
鋁合金元素檢測儀器)。礦石分析儀、手持式光譜儀、
金屬廢料回收檢測儀、液相色譜儀、氣相色譜儀、ICP電感藕合等離子光譜儀、AAS原子吸收儀、CS碳硫分析儀、等各類實驗室檢測儀器,成立至今深受廣大客戶朋友喜愛,并為大家提供了良好的產(chǎn)品和 服務(wù),在華南地區(qū),我們有很多合作伙伴,如有意向熱烈歡迎各介朋友前來咨詢。
EDX 1800 B 是專門針對ROHS、重金屬等環(huán)保指令設(shè)計得一款產(chǎn)品。
→?打破傳統(tǒng)儀器直線的設(shè)計,采用流線體的整體化設(shè)計,儀器時尚大方。
→?采用美國新型的Si-pin檢測器,電致冷而非液氮制冷,體積小、數(shù)據(jù)分析準確且維護成本低。
→?采用自主研發(fā)的SES信號處理系統(tǒng),有效提高測量的靈敏度,讓測量更準確。
→?一鍵式自動測試,使用更簡單,更方便,更人性化。
→?七種光路校正準直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品自動切換。
→?多重防輻射泄露設(shè)計,輻射防護級別屬于同類產(chǎn)品頂尖位置。
→?先進的一體化散熱設(shè)計,使整機散熱性能得到極大提高,保證了核心部件的運行安全。
→?獨有的機芯溫度監(jiān)控技術(shù),保證X射線源的 運行,有效延長其使用壽命,降低使用成本。
→?多重儀器配件保護系統(tǒng),并可通過軟件進行全程監(jiān)/控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全。
→?ROHS 測試軟件,標準視窗設(shè)計,界面友好,操作方便。
→?本機采用USB2.0接口,有效地保證了數(shù)據(jù)準確高速有效的傳輸。
→?檢測器能量分辨率:160±5eV
→?高壓電源輸出功率::50W
→?X射線管輸出電流:1mA
→?樣品腔尺寸:460mm*298mm*98mm
→?儀器工作溫度:15-30℃
→?儀器工作電源:交流? ? 220±5V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)
→?輸出功率:≤100W
→?儀器重量:45kg
→?測量元素范圍:從硫(S)至鈾(U)等?75?種元素
→?元素含量分析范圍:1ppm-99.99
→?測量時間:60-200s?(可調(diào)),推薦180s
→?七種光路校正系統(tǒng),由軟件自動控制
→?三重安全保護模式
→?針對ROHS等環(huán)保指令專門開發(fā)的測試軟件,不僅可以應(yīng)對ROHS指令,還能同時應(yīng)對無鹵要求,玩具指令,元素分析和鍍層分析等測試。