產(chǎn)品詳情
捷克諾頓B6-C高精度超聲波測(cè)厚儀
B6-C高精度超聲波測(cè)厚儀適用范圍:
B6-C高精度超聲波測(cè)厚儀測(cè)量各類(lèi)金屬及其合金制品的厚度,可穿透保護(hù)涂層對(duì)基材厚度進(jìn)行測(cè)量,涂層的厚度值一并顯示。測(cè)量各類(lèi)非金屬產(chǎn)品(塑料、陶瓷、橡膠、玻璃和其它)的厚度,以及任何超聲波良導(dǎo)體材料的厚度測(cè)量。
B6-C高精度超聲波測(cè)厚儀優(yōu)勢(shì)特點(diǎn):
1、2.4寸TFT彩色液晶顯示屏(分辨率:320×240);
2、A掃描模式下,以圖形的方式顯示多次底波反射信號(hào);
5、可測(cè)量保護(hù)涂層厚度(在P-E-Ct模式下);
7、儀器內(nèi)置29種不同材料的標(biāo)準(zhǔn)聲速值,方便隨時(shí)調(diào)用;
8、涂層聲速值單獨(dú)設(shè)定,確保不同的涂層材料,其厚度測(cè)量值準(zhǔn)確(默認(rèn)是油漆聲速)。
B6-C高精度超聲波測(cè)厚儀基本技術(shù)參數(shù):
測(cè)量厚度范圍(對(duì)于鋼)
雙晶探頭:0.5-300mm;
單晶探頭(帶延遲塊):0.25-10mm;
可穿透涂層的雙晶探頭(用于厚度≤2.0mm的保護(hù)涂層下的金屬測(cè)量):0.25-100mm;
聲速范圍
1000-9999 m/s
測(cè)量分辨率
0.1mm;0.01mm可選
測(cè)量精度
0.25mm-10.0mm范圍內(nèi):±(0.005T+0.05)mm;
10.0mm-300.0mm范圍內(nèi):±(0.01T+0.1)mm;
電源
內(nèi)置可充電鋰電池 3.7V
工作溫度范圍
-20…+50℃
連續(xù)工作時(shí)間
不少于8小時(shí)
外觀尺寸
120×57×20mm
儀器重量
150g
*測(cè)量厚度范圍取決于所檢測(cè)材料的聲學(xué)特性和探頭的類(lèi)型。
交付組件:
帶探頭的儀器主機(jī)(探頭數(shù)量和型號(hào)由客戶(hù)選擇)、充電器、mini-USB—USB A型數(shù)據(jù)線纜(用于連接計(jì)算機(jī))、軟件光盤(pán)(用于傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)并處理測(cè)量結(jié)果)、使用說(shuō)明書(shū)(中英文各一份)、防震儀器箱。
可選配的B6-C測(cè)厚儀探頭
雙晶探頭5A10
檢測(cè)對(duì)象:測(cè)量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚。
技術(shù)特點(diǎn):
注:采用新型復(fù)合材料制作,具有較高的耐磨性,并且與粗糙表面接觸良好。
雙晶探頭10A6
檢測(cè)對(duì)象:測(cè)量管道的厚度,半徑較小的容器的彎曲區(qū)域。
技術(shù)特點(diǎn):
注:采用新型復(fù)合材料制作,具有較高的耐磨性,并且與粗糙表面接觸良好。
雙晶探頭2.5A12
檢測(cè)對(duì)象:在制造、運(yùn)行和維修過(guò)程中測(cè)量金屬和非金屬產(chǎn)品的殘余壁厚。
技術(shù)特點(diǎn):
小尺寸雙晶探頭10A4
檢測(cè)對(duì)象:測(cè)量壁厚較薄的管材和金屬板材的厚度。
技術(shù)特點(diǎn):
注:可用于狹小、難以進(jìn)入的位置的厚度檢測(cè)(飛機(jī)的縱梁,小直徑的管道等)。
雙晶高溫探頭5T12
檢測(cè)對(duì)象:用于測(cè)量高溫零部件的厚度。
技術(shù)特點(diǎn):
可穿透涂層的測(cè)厚探頭
雙晶探頭5E10
檢測(cè)對(duì)象:測(cè)量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚,可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度,也可同時(shí)顯示出基材和涂層的厚度值(在P-E-Ct模式下)。
技術(shù)特點(diǎn):
雙晶探頭10E6
檢測(cè)對(duì)象:測(cè)量管道的厚度,半徑較小的容器的彎曲區(qū)域,可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度,也可同時(shí)顯示出基材和涂層的厚度值(在P-E-Ct模式下)。
技術(shù)特點(diǎn):
帶延遲塊的探頭15P6DL
檢測(cè)對(duì)象:推薦用于非常薄的材料的厚度測(cè)量。
技術(shù)特點(diǎn):
注:可用于狹小、難以進(jìn)入的位置的厚度檢測(cè)(飛機(jī)的縱梁,小直徑的管道等)。
帶保護(hù)膜的單晶探頭P111-S5C(用于E-E-E模式)
檢測(cè)對(duì)象:在E-E-E模式下,用來(lái)測(cè)量金屬和非金屬產(chǎn)品的殘余壁厚,可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度。
技術(shù)特點(diǎn):
注:在粗糙或銹蝕非常嚴(yán)重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對(duì)基材進(jìn)行測(cè)厚。
帶保護(hù)膜的單晶探頭P111-S2C(用于E-E-E模式)
檢測(cè)對(duì)象:在E-E-E模式下,用來(lái)測(cè)量金屬和非金屬產(chǎn)品的殘余壁厚,可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度。
技術(shù)特點(diǎn):
注:在粗糙或銹蝕非常嚴(yán)重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對(duì)基材進(jìn)行測(cè)厚。
3、帶有B掃描測(cè)量模式;
4、可穿透保護(hù)涂層對(duì)金屬基材進(jìn)行測(cè)厚(在E-E-E模式和P-E-Ct模式下);
6、具有探頭自動(dòng)識(shí)別功能;
**可穿透涂層厚度范圍取決于涂層材料的聲學(xué)特性。
注:在粗糙或銹蝕非常嚴(yán)重的工件表面具有良好的透聲性。