產(chǎn)品詳情
日本napson非接觸式薄層電阻多點測量儀
- 由于它是一種非接觸式渦流方法,因此可以進行測量而不會損壞它。
- 可編程測量模式和2-D / 3-D映射軟件
- *選項:安裝了額外的晶圓厚度測量探針
測量規(guī)格
測量目標
半導(dǎo)體/太陽能電池材料相關(guān)(硅,多晶硅,SiC等)
新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)
導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
硅基外延,離子與
半導(dǎo)體相關(guān)的注入樣品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*請與我們聯(lián)系)
測量尺寸
2-8英寸
(可選; 12英寸)
測量范圍
[電阻] 1m至200Ω? cm
(*所有探頭類型的總量程/厚度500um)
[抗剪強度] 10m至3kΩ / sq
(*所有探頭類型的總量程)
*有關(guān)每種探頭類型的測量范圍,請參閱以下內(nèi)容。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-??cm)
(4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)
映射圖像
與超高電阻范圍兼容的非接觸式(電暈放電法)薄層電阻測量系統(tǒng)
商品名稱:CRN-100
產(chǎn)品圖片(可根據(jù)客戶要求進行各種定制)
產(chǎn)品特點
- 超高電阻范圍:以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□
- 平面多點測量功能
- 2D / 3D映射圖像顯示
- Windows 7專用軟件
- 測量數(shù)據(jù)可以CSV文件格式輸出
- 由于是非接觸型,因此可以不受接觸電阻的影響進行測量。
測量規(guī)格
測量目標
*通常,可以測量本設(shè)備測量范圍內(nèi)的任何樣品。請聯(lián)系我們。
?超高電阻薄膜樣品(a-Si,IGZO等)
?半導(dǎo)體材料接近絕緣
?導(dǎo)電橡膠
這樣
測量尺寸
尺寸:最大300 x 400毫米
厚度:最大2毫米
*我們可以自定義您的要求,例如尺寸支持。請聯(lián)系我們。
測量范圍
10E + 9?10E + 15Ω/□
傳單
*單擊下面的按鈕下載該產(chǎn)品的傳單。
映射圖像
產(chǎn)品信息
- 接觸電阻測量儀
- 非接觸電阻測量
- 手動型(1點測量系統(tǒng))
- 半自動類型(多點測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
- 全自動型(全自動測量系統(tǒng))
- 串聯(lián)型(嵌入式測量模塊)
- 壽命測量
- PN判斷
- 傳播阻力
- 4探頭探頭
- 平面度/厚度測量
- 電阻參考晶圓
- 線性刻度
- 膜厚測量系統(tǒng)(非接觸式,光學(xué)式)
技術(shù)介紹
Napson電阻測量有兩種類型:接觸型和非接觸型。我們將介紹每種測量方法。
海外網(wǎng)絡(luò)
介紹Napson的海外網(wǎng)絡(luò)。我們還為在海外工廠的交付和安裝提供全面的支持。
售后服務(wù)
我們加強了售后服務(wù),因此即使在接觸式交付后也可以穩(wěn)定地使用我們的產(chǎn)品。
日本napson非接觸式薄層電阻多點測量儀