產(chǎn)品詳情
廣東深圳cindbestCM-4小型手動(dòng)探針臺(tái)廠家
4寸手動(dòng)探針臺(tái)
適合4英寸以內(nèi)樣品測(cè)試
體積小巧，可作為手套箱內(nèi)探針臺(tái)
CS探針臺(tái)能夠勝任的測(cè)試有：
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序號(hào) |
根據(jù)測(cè)試樣品分類 |
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序號(hào) |
根據(jù)應(yīng)用分類 |
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1 |
晶圓測(cè)試 |
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1 |
射頻測(cè)試 |
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2 |
LED測(cè)試 |
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2 |
高溫環(huán)境測(cè)試 |
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3 |
功率器件測(cè)試 |
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3 |
低電流（100fA 級(jí)）測(cè)試 |
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4 |
MEMS測(cè)試 |
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4 |
I-v/c-v/p-iv測(cè)試 |
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5 |
PCB測(cè)試 |
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5 |
高壓，大電流測(cè)試 |
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6 |
液晶面板測(cè)試 |
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6 |
磁場(chǎng)環(huán)境測(cè)試 |
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7 |
太陽(yáng)能電池片測(cè)試 |
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7 |
輻射環(huán)境測(cè)試 |
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8 |
材料表面電阻率測(cè)試 |
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9 |
積分球測(cè)試 |
廣東深圳cindbestCM-4小型手動(dòng)探針臺(tái)廠家
探針臺(tái)的使用
1. 將樣品載入真空卡盤，開(kāi)啟真空閥門控制開(kāi)關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。
1. 使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。
1. 使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)將樣品待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。
1. 顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中心。
1. 待測(cè)點(diǎn)位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)動(dòng)作要小心且緩慢，以防動(dòng)作過(guò)大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí)，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針，最后則使用X軸旋鈕左右滑動(dòng)，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。
1. 確保針尖和被測(cè)點(diǎn)接觸良好后，則可以通過(guò)連接的測(cè)試設(shè)備開(kāi)始測(cè)試。
廣東深圳cindbestCM-4小型手動(dòng)探針臺(tái)廠家
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CINDBEST半導(dǎo)體儀器營(yíng)銷事業(yè)部代理的設(shè)備包括半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備：CINDBEST品牌探針臺(tái)和激光修復(fù)儀，代理keithleyI-V/C-V參數(shù)測(cè)試儀，agilent網(wǎng)絡(luò)分析儀，newwave激光系統(tǒng)，motic金相顯微鏡，EMMI微光顯微鏡，X射線，C-SAM超聲波探測(cè)，電子顯微鏡。目前已服務(wù)30幾家研究機(jī)構(gòu)和高校。
如需訂購(gòu)探針測(cè)試臺(tái)歡迎來(lái)電洽談業(yè)務(wù)，13249756822，quella_wu@cindbest.com 森東寶科技吳小姐。
