產(chǎn)品詳情
三維掃描儀抄數(shù)機(jī)逆向工程儀器設(shè)備主要應(yīng)用在三維掃描、三維抄數(shù)、實(shí)物建模、逆向工程、尺寸對(duì)比檢測(cè)
系統(tǒng)介紹
XTOM-ET工業(yè)級(jí)高精度三維掃描儀(抄數(shù)機(jī))基于雙目立體視覺(jué)原理,采用外差式多頻相移三維光學(xué)測(cè)量技術(shù),單幅測(cè)量幅面大?。◤?/span>30毫米到1米)、測(cè)量精度、測(cè)量速度等性能都達(dá)到工業(yè)實(shí)物逆向建模及尺寸對(duì)比檢測(cè)的需要,與傳統(tǒng)的格雷碼加相移方法相比,測(cè)量精度更高,單次測(cè)量幅面更大、抗干擾能力強(qiáng)、受被測(cè)工件表面明暗影響小,而且能夠測(cè)量表面劇烈變化的工件,可以掃描測(cè)量幾毫米到幾十米的工件和物體。
應(yīng)用方向
行業(yè)
汽車行業(yè)、航空航天、機(jī)械制造、文物修復(fù)、家具制造、醫(yī)療保健等??
逆向設(shè)計(jì)
快速獲取被測(cè)物體表面三維數(shù)據(jù),建立物體三維模型,優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)/還原設(shè)計(jì)圖
產(chǎn)品檢測(cè)
檢測(cè)范圍包括:產(chǎn)品點(diǎn)、線、面之間角度、距離、對(duì)稱度及位置度等關(guān)系:對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)共建或設(shè)計(jì)圖分析產(chǎn)品尺寸、角度、厚度及位置偏差等:對(duì)比產(chǎn)品使用前后數(shù)據(jù)分析產(chǎn)品使用損耗,分析產(chǎn)品性能及壽命等。可檢測(cè)鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等。
技術(shù)參數(shù)
常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)型
型號(hào) |
XTOM-TC |
XTOM-ED-I |
XTOM-ED-II |
測(cè)量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
相機(jī)像素 |
2*130w |
2*130w |
4*230w |
測(cè)量精度(mm) |
0.04 |
0.025/0.03 |
0.025~0.03 |
采樣點(diǎn)距(mm) |
0.15/0.3 |
0.1/0.2 |
0.1~0.2 |
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)距(mm) |
350/850 |
450/850 |
450/850 |
掃描時(shí)間(s) |
2~4 |
||
掃描光源 |
藍(lán)/白 |
||
拼接方式 |
標(biāo)志點(diǎn)/特征/手動(dòng) |
高端工業(yè)型
型號(hào) |
XTOM-ET-I |
XTOM-ET-II |
XTOM-ET-III |
測(cè)量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
800*600 |
相機(jī)像素 |
2*230w |
2*500w |
2*500w |
測(cè)量精度(mm) |
0.02/0.025 |
0.01/0.015 |
0.03 |
采樣點(diǎn)距(mm) |
0.1/0.2 |
0.08/0.15 |
0.3 |
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)距(mm) |
450/850 |
450/850 |
1600 |
掃描時(shí)間(s) |
2~8 |
||
掃描光源 |
藍(lán)/白 |
||
拼接方式 |
標(biāo)志點(diǎn)/特征/手動(dòng) |
備注:高端工業(yè)型CCD支持升級(jí)600萬(wàn)/900萬(wàn),支持依據(jù)客戶需求定制。