產(chǎn)品詳情
在半導(dǎo)體集成電路國(guó)產(chǎn)化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢(shì)下,半異體行業(yè)引入了大量新材料、新工藝和新的器件結(jié)構(gòu),導(dǎo)致集成電路更高的缺陷密度。廣電計(jì)量提供超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測(cè)試技術(shù)服務(wù),協(xié)助客戶保證及提高產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量的一致性。
分析對(duì)象
處理器、存儲(chǔ)器、AD/DA、接口芯片等大規(guī)模集成電路,DIP、SOP、BGA、PGA、OFP、PLCC、LCC等各種封裝。
試驗(yàn)項(xiàng)目:
一、超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉
通過對(duì)大規(guī)模集成電路施加持定測(cè)試向量(有效測(cè)試向量).激勵(lì)內(nèi)在缺陷和錯(cuò)誤形成響應(yīng),并通過電應(yīng)力和熱應(yīng)力的加速,在短時(shí)間內(nèi)讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象,并通過測(cè)試手段予以易除,以達(dá)到提高大規(guī)模集成申路使用可靠性的目的。
技術(shù)能力
信號(hào)頻率∶100MHZ;
系統(tǒng)分區(qū)∶16區(qū);
I/O通道數(shù)∶128路;
試驗(yàn)溫度∶-10℃~+125℃
向量編程深度32M
二、超大規(guī)模集成電路測(cè)試
超大規(guī)模集成電路測(cè)試是確定或評(píng)估大規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程,是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控生產(chǎn)、保證·質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用的重裝手段。特別在集成電路生產(chǎn)后期和使用前期不良率驗(yàn)證過程中,采用適當(dāng)?shù)?測(cè)試向量和全自動(dòng)化的測(cè)試設(shè)備,可q面快速地識(shí)別不良產(chǎn)品,提高產(chǎn)品的交付可靠性。
技術(shù)能力
能進(jìn)行動(dòng)態(tài)功能測(cè)試、直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試;
能進(jìn)行常溫測(cè)試、低溫測(cè)試、高溫測(cè)試,溫度范圍∶-55℃~+150℃(土2℃);
信號(hào)頻率∶≥200MHz,可升級(jí);
I/O通道數(shù)∶512路;
廣電計(jì)量檢測(cè)集成電路測(cè)試、分析能力:
可靠性驗(yàn)證(RA):
芯片級(jí)預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113;
高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103;
溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104;
溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101;
高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTSL/HAST),JESD22-A110;
高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108;
靜電測(cè)試(ESD):
人體放電模式測(cè)試(HBM),JS001;
元器件充放電模式測(cè)試(CDM),JS002;
閂鎖測(cè)試(LU),JESD78;
TLP;Surge/EOS/EFT;
失效分析(FA):
光學(xué)檢查(VI/OM);
掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs);
OBIRCH;
Micro-probe;
廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司(GRGT)始建于1964年,是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站,經(jīng)過50余年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國(guó)化、綜合性的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)。廣電計(jì)量的資質(zhì)能力處于行業(yè)*水平,其中CNAS認(rèn)可3408項(xiàng),CMA認(rèn)可1990項(xiàng),CATL認(rèn)可覆蓋55個(gè)類別;在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展過程中,廣電計(jì)量還獲眾多榮譽(yù)稱號(hào)。
廣電計(jì)量打造了一支技術(shù)水平和服務(wù)意識(shí)俱佳的服務(wù)隊(duì)伍,現(xiàn)有員工4000多人,其中包括各領(lǐng)域?qū)和技術(shù)帶頭人50多人,博士后、博士30人,碩士380多人。
廣電計(jì)量建有技術(shù)研究院,在新能源汽車、軌道交通、無線通信等領(lǐng)域,先后主持編寫30多項(xiàng)*和地方計(jì)量測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程,承擔(dān)50多項(xiàng)國(guó)家、省部級(jí)等重點(diǎn)科研項(xiàng)目,累計(jì)獲得專利*247項(xiàng),另獲得軟件著作權(quán)119項(xiàng),積極推動(dòng)了行業(yè)新技術(shù)的創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。
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